再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN
实际操作
小锡炉上验
是否100良好上锡；如果不是则拒收
证上锡性
尺寸规格检验
MA
a外形尺寸不符合规格要求不可接受。
电性检验
MA
a电容值超出规格要求则不可接受。
卡尺
若用于新的Model，需在PCB上对应的位置进行试插
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
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（五）晶体类检验规范
1目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
2适用范围适用于本公司所用晶体之检验。
3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4允收水准（AQL）
严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI15
5参考文件《数字频率计操作指引》
检验项目缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a根据来料送检单核对外包装或LABEL上的PN及实物是否都
MA
目检
正确任何有误均不可接受。
数量检验
a实际包装数量与Label上的数量是否相同若不同不可接受；
MA
b实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接
受。
目检点数
备注
外观检验
a字体模糊不清，难以辨认不可接受；b有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；MAc元件变形，或受损露出本体等不可接受；dPi
生锈氧化、上锡不良，或断Pi
，均不可接受。
目检
每LOT取510PCS在小锡炉上验证上
锡性
电性检验
a晶体不能起振不可接受；MA
b测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位和数字频率
计
电性检测方法
晶体32768KHz16934MHz25000MHz
检测方法
在好的样板的相应位置插上待测晶体再接通电源开机在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
24576MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
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（六）三极管检验规范
1目的
作为IQC人员检验三极管类物料之依据。
2适用范围适用于本公司所有三极管之检验。
3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4允收水准（AQL）
严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI15
5参考文件无
检验项目缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a根据来料送检单核对外包装或LABEL上r