部分电子元器件检验规范标准书
一IC类检验规范
1目的
2适用范围
3抽样计划
4允收水准（AQL）
5参考文件
检验项目
包装检验
数量检验
外观检验
作为IQC人员检验IC类物料之依据。
适用于本公司所有IC之检验。
依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
严重缺点CR0主要缺点MA次要缺点MI
无
缺陷属性
缺陷描述
a根据来料送检单核对外包装或LABEL上的PN及实物是否MA
都正确任何有误均不可接受。
b包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
a实际包装数量与Label上的数量是否相同若不同不可
接受；
MA
b实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合
不可接
受。
aMarki
g错或模糊不清难以辨认不可接受；b来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积MA不超
过05mm2且未露出基质可接受；否则不可接受；ePi
氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；f元件脚弯曲，偏位缺损或少脚，均不可接受；
检验方式
备注
目检
目检点数
目检或10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
1
f备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
（二）贴片元件检验规范电容电阻电感…
1目的
2适用范围
3抽样计划
4允收水准（AQL）
5参考文件
检验项目包装检验
数量检验
外观检验
电性检验
便于IQC人员检验贴片元件类物料。
适用于本公司所有贴片元件（电容电阻电感…）之检验。
依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
严重缺点CR0主要缺点MA次要缺点MI
《LCR数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》
缺陷属性
缺陷描述
a根据来料送检单核对外包装或LABEL上的PN及实物是
MA
否都正确任何有误均不可接受。
b包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
a实际包装数量与Label上的数量是否相同若不同不可接
MA
受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接受。
aMarki
g错或模糊不清难以辨认不可接受；
b来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c本体变形，或有肉眼可见的龟裂r