隔多长时间抽取一个样本或多少产量抽取一
样本）。3232根据采样频率采集数据，每个样本的200个数据要连续获得。3233计算每个样本内的不合格品率。
P
pN
其中：p不合格品率
P每个样本内不合格品数，共得25个P值
N样本容量
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3234根据P值确定控制图的刻度（控制图应提前制好）。3235将25个P值描于控制图上，并连成折线。3236计算平均不合格品率
PP1P2P3P25
3237计算上下控制限（UCL及LCL）
1
UCLPP3P1PN2
1
LCLPP3P1PN2
N样本容量
3238将中位线（P）和上下控制限（UCLP，LCLP）描于P图上，P图制作完成。324控制图的分析（包括XR图及P图）3241当出现下列情况时，则说明过程出现异常。a出现超过控制限的点。b出现非随机图型：即不能使23的点位于中位线周围13的区域内。c出现链：即连续7点位于中位线一侧或连续7点上升或下降。3242出现上述异常，应进行分析原因并采取措施。325控制图用于长期监控3251当过程不稳定因素已清除后，应剔除失控点数据，重新计算过程均值和控制限。3252将重新计算的过程均值和控制限描于控制图上用于长期监控。3253剔除失控点后，若样本数量小于20时，原有控制图即行废止，需重新采集数据并制图。326符合正态分布的计量型质量特性（对称公差及不对称双侧公差）的过程能力指数的计算方法及过程。在进行计算计量型过程能力指数时必须是在过程受控的情况下进行的，且计量型质量特性过程能力指数越大说明过程能力越强。3261CP值及CPK值的计算方法。a断续取125个数据（即隔一段时间抽取一个子组，共抽取25个子组）。b对称公差计算方法：
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cCPUSLLSL6固定标准差
CPKUSLLSL26固定标准差
其中：USL公差上限，LSL公差下限，
过程均值与规范中值差的绝对值。
固有标准差Rd2
d2233
d不对称公差计算方法：
CPK1USL过程均值（3固有标准差）
CPK2过程均值LSL3固有标准差
CPK1与CPK2取较小值
3262PP值及PPK值的计算方法。a连续取100125个数据b对称公差计算方法：
PPUSLLSL6总标准差，
PPKUSLLSL26总标准差，
其中：USL公差上限，LSL公r