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“1”或“1”变为“0”时，或者两个连接线分别输入“1”和“0”时。用同样的方法，我们可以确定集成电路内部模块的故障模式出现时所需要的输入条件和集成电路前后执行语句相互影响故障模式出现时的输入条件。根据我们实际使用经验发现：绝大多数大规模集成电路的失效是由于芯片与外部管脚的连接或芯片内部各模块连接出现问题造成的。测试程序一旦测试到某个集成电路有故障，该个集成电路的测试应立即停止，系统显示该个集成电路失效，同时开始下个集成电路的测试。所以在考虑到测试时间和成本的情况下，应当首先测试模块间的连接故障，其次才是各个模块的测试，最后才是集成电路前后执行语句可能产生的相互影响故障模式的测试。参考文献：1美MiChealJoh
Sebastia
Smith著，虞惠华，汤庭鳌，来金梅，孙承缓等译专用集成电路，第l版，电子工业出版社，20042朱瑜一种大规模集成电路测试方法20063楼冬明，陈波数字集成电路测试系统的研制电子技术应用，20014谷健，田延军，史文，张晓黎集成电路测试技术与应用中国惯性技术学报，20025吕虹简易集成电路测试系统的设计合肥工业大学学报（自然科学版），1995
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