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大规模集成电路的功能测试研究
作者：翟涛来源：《中国科技纵横》2014年第05期
【摘要】本文介绍了大规模集成电路功能测试的基本原理，并对集成电路功能测试的几个主要方法进行了概述，通过对比每种测试方法的优缺点，进而得出模拟故障法为适合我国大规模集成电路功能测试的最佳方法。该方法主要是解决了随着大规模集成电路的发展，单个电路本身的输入、输出管脚数量不断增加而带来的测试矢量呈现指数增长的问题，从测试时间和测试成本上考虑，使用传统的穷举法已经不可能符合大规模集成电路的测试要求。与传统的穷举法相比，它可以在不降低测试结果的准确性和可靠性的同时，使编制程序所需要的测试矢量控制在可以接受的水平上。最后，本文介绍了模拟故障法的主要思路和测试顺序。【关键词】大规模集成电路功能测试模拟故障法1大规模集成电路功能测试基本原理及其研究的必要性在集成电路的设计、制造和应用阶段，不可避免的会出现故障，为了保证集成电路工作的可靠性，必须对它进行必要的测试。集成电路的测试一般分为三个部分：静态测试、动态测试和功能测试。一般来说，每种集成电路的静态测试和动态测试的方法和原理都是一致的，因此，静态和动态指标的测试是较为容易的，但由于大规模集成电路的多样性和复杂性，其功能测试一直成为电路测试领域中较为头疼的问题。一般传统的集成电路功能测试是：在集成电路的原始输入端施加若干输入矢量作为激励信号，观察由此产生的输出响应，与预期的正确结果相比较，一致则表示集成电路正常，不一致则表示集成电路不正常。集成电路的功能测试问题的关键是在于对集成电路的原始输入端施加什么样的输入矢量然后通过比较输出响应来判断集成电路是否正常。但是随着集成电路的规模扩大，测试生成变的越来越困难。大型集成电路的测试和故障诊断对于计算机运算速度的要求越来越高，所需的计算机的内存容量也越来越大，使得传统的测试方法失去了实用的价值，寻找简单的、有效的测试方法就成为测试领域中的一个非常重要的研究课题。2大规模集成电路功能测试方法的选择大规模集成电路的功能测试是一项非常复杂的工作，现在对集成电路在国内和国际有各种测试方法，大概分为以下三类：（1）穷举法测试：优点是故障覆盖率达到100，缺点是大规模集成电路测试时间过长，对于大规模、超大规模集成电路的测试不适用。（2）自建内测法：即在设计大规模、超大规模集成电路时，即r