清除。
如果在实验操作过程中由于人为操作失误或者其他环境影响造成测量数据无效还可以点击删除当前点按钮删除相应的采样点例如在做电容式传感器静态标定过程中由于螺旋测微仪转动的圈数错误即位移间隔错误导致已经采集的数据无效时可以把当前点从曲线中删除或者测量过程中觉得误差太大想重新测量的话随时可以清空历史数据重新再来一遍实验平台将删除xy图上的描点从头开始重新描点显示。这个功能使实验过程有了很大的灵活性。
3曲线组的选择。
实验平台的设计可以进行最多4组曲线的测量与显示。此功能的目的在于可以作同一传感器在不同测量条件下的特性对比或者不同类型传感器在相同环境条件下的特性对比实验。例如可以实现金属应变片与半导体应变片的特性对比实验。分别测试出两种传感器的特性曲线结果显示在同一xy图上可以从特性曲线直观地看出两种材料的应变传感器的特性还可以通过拟合得到两种传感器的灵敏度、线性度等参数对比。或者是对同一类型的应变片可以做全桥和半桥实验通过测量结果掌握不同的测量电路的特性。通过直观的图形和数据的对比大大增强了学生对两种传感器的特性的理解同时提高了实验效果。
图1是利用半导体应变片在单臂和半桥差动工作方式下进行了两组静态标定数据点及相应的拟合直线。从图中的散点可以看出两种工作下的数据点都基本在一条直线上满足应变片在直流电桥测量电路情况下输出线性的特点。
图1半导体应变片特性对比实验结果
4曲线拟合部分。
每组所测数据结合特性曲线都可以分别进行数据拟合。计算出最大偏差最小偏差、线性度、灵敏度、均方差、零点和绘制出相应的拟合曲线。实验平台中对测量曲线和拟合曲线的自动绘制省去了学生纯手工绘制的麻烦和误差。而且学生也可以用手算的形式来验证平台的计算数据是否正确同时达到对拟合曲线的实现方法的巩固。以图1为基础进行的两组曲线拟合结果如图2所示。
图2半导体应变片的拟合直线方程及特性参数
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其中A组曲线拟合为半导体半桥差动工作方式下的拟合直线方程及特性参数。B组曲线拟合为半导体单臂工作方式下的拟合直线方程及特性参数。
由拟合直线灵敏度参数可以看出半桥差动方式时灵敏度为056单臂工作方式时灵敏度为027两者之间为近似2倍关系。这与应变片在直流电桥测量电路中的原理是一致的。所以验证了应变式传感器的测量电路的工作原理。同时学生可以从图中清楚地观察到各个测量点之间的关系从而r