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集成电路测试原理及方法简介
院系：姓名：学号：指导教师：设计时间：
电气工程及自动化学院XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
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f摘要
随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。
本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。
关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法
f目录
一、引言4二、集成电路测试重要性4三、集成电路测试分类5四、集成电路测试原理和方法6
41数字器件的逻辑功能测试6411测试周期及输入数据8412输出数据1042集成电路生产测试的流程12
五、集成电路自动测试面临的挑战13参考文献14
f一、引言
随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。
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