之间称为B上区μσ与μσ之间称为C区μT2σ与μTσ之间称为B下区μ3σ与μ2σ之间称为A下区4、异常原因的识别常见的异常情况与模式有如下八种：（1）一点超出控制界限（2）九点在中心线的同侧（3）六点呈上升或下降趋势（4）14点交替上升下降（5）三点中有两点处于A上或A下区（6）五点中有四点在C区之外（7）15点在中心线附近的C区内（8）连续8点在中心线两侧而无一点在C区四、SPC工作思路1确定SPC控制点选择适合的统计技术、控制图类型2建立分析用控制图21确定样本组数和样本容量根据取样检验的可能性和必要性来确定打点频度，使组内变差小，组间变差大；一般可使用每班打一点或每天打一点；通常要求25或更多个子组内包含100或更多的单值读数。22收集数据，运用mi
itab统计软件作分析用控制图，主管工程师对
f异常情况分析原因，采取措施，消除异常因素。补充数据，重新计算控制界限，直到找到统计受控状态，进行初始过程能力研究分析。3．建立控制用控制图3．1主管工程师把统计受控状态下（稳定状态）确定的控制图转化为控制用控制图，在控制图标准格式上按适用的控制界限作图。现场操作人员进行生产控制，并对SPC控制点按确定的打点频度以时间先后在控制图上打点。一般可使用每班打一点或每天打一点。4、诊断与解决问题4．1主管工程师定期对SPC控制点进行诊断，对发现的问题进行根本原因分析，提出解决措施，消除产生异常的原因，必要时调整控制界限。4．2SPC应用分析主管工程师定期对SPC控制点应用情况进行分析，计算过程能力指数，分析过程能力改进情况，需要时调整过程。五、建立控制图，进行控制的一般步骤：（以XR图为例）（1）确定SPC控制点、样本组数和样本容量选择适合的统计技术、控制图类型（2）收集k组预备数据也称为参考数据，计算每一个样本的均值与极差。通常要求25或更多个子组内包含100或更多的单值读数。（3）首先计算k个样本极差的均值记为R，这便是R控制图的中心线。并计算R图的控制限。（4）作R图，将各样本点与控制限进行比较，检查数据点有无失控或异常模式。对发现的失控或异常进行分析，找出原因。
f（5）剔除异常的子组，重新计算R图CL，UCL，LCL，再次确认所有点受控。必要时，可以反复“识别纠正重新计算”这一过程，直到所有点受控。（6）当异常的子组剔除后，用留下的子组数据，计算R和X，并计算它们的上下控制界限。（7）当R图是处于统计控制状r