本章节我们来说说最基本的测试开短路测试（Ope
ShortTest），说说测试的目的和方法。一．测试目的
Ope
ShortTest也称为Co
ti
uityTest或Co
tactTest，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。Ope
Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bo
dwire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外，在测试开始阶段，Ope
Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。二．测试方法
Ope
Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Ope
Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图31），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图32），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。大家知道，当电流流经二极管时，会在其PN结上引起大约065V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Ope
管脚引起的电压。Ope
Short测试的钳制电压一般设置为3V当一个Ope
的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。
串行静态Ope
Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Ope
引起还是Short导致。缺点在于，从测试时间上考虑，会要求测试系统对DUT的每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。对于拥有PPPMU结构的测试系统来说，这个缺点就不存在了。
当然，Ope
Short也可以使用功能测试（Fu
ctio
alTest）来进行，我会在后面相应的章节提及。
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f图31对地二极管的测试测试下方连接到地的二极管，用PMU抽取大约100uA的反向电流；设置电压下限为15V，低于15V（如3V）为开路；设置电压上限为02V，高于02V（如01V）为短路。此方法仅限于测试信号管脚（输入、输出及IO口），不能应用于电源管脚如VDD和VSr