5324任何其它明显的非随机图形，如23的描点应落在控制限13的中间区域，描点成
规则形状。533异常之控制图的纠正预防措施5331出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施。5332对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。5333如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果必要时发出《纠正预防措施要求书》要求其改善。54X－R控制图的使用方法
X－R控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管
f制的目的。541决定样本数5411使用X－R控制图的样本数（
）以25个为适当，但不要超过10个为宜。5412样本数一经决定后必须在使用时固定不变。542平均值与全距的计算5421平均值（X）各组内数据的和÷样本数。5422全距（R）各组内的最大值－最小值。543X控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。5431X控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：
5432R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：
5433X－R控制图的系数表
N
2
3
4
5
6
7
8
9
10
A2188102073058048042037034031
D2113169206233253270285297308
D3
008014018022
D4327257228211200192186182178
55P控制图的使用方法P控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的。
551决定样本数5511使用P控制图的样本数（
）以能够发现15个不良品最为适当，样本数的决定公式为：
5512若未决定样本数，导致控制下限小于0，则下限取0。552控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代入。
f553P控制图之中心线及控制上、下限的计算公式：
56制程能力指数Cpk使用规划561工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的制程或工序并明确相应的Cpk值。562制程能力指数5611使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性。
5612Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。
衡量等级
A
B
Cpk值
20含以上
16720
C133167
D10133
E06710
F033067
Cpk等级≥6≥5≥4≥3≥2
＜2
不良率P
相应措施
P≤0000000002
P≤000000057P≤000006
P≤00027
P≤00455
P≥03174
本公司的优势，需要时配合控制图控制。
希望制程能够达到的水准，应考虑配合控制图进行控r