x射线衍射仪原理
fx射线衍射仪原理及应用
课程名称材料分析测试技术
系别金属材料工程系
专业
金属材料工程
班级
材料
姓名_______
学号
化学工程与现代材料学院制
ff0
f0
f0
f挥发。粉末样品要求在3克左右,如果太少也需5毫克。样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。对于研究课题使用的、购买的各种原料一定要进行鉴定,如材料分子式,晶型,结晶度,粒度等。以免用错原料。对于不同基体的薄膜样品,要了解检验确定基片的取向,X射线测量的膜厚度约20个纳米。对于纤维样品的测试应该提出测试纤维的照射方向,是平行照射还是垂直照射,因为取向不同衍射强度也不相同。对于焊接材料,如断口、焊缝表面的衍射分析,要求断口相对平整,提供断口所含元素。如果一个断口照射面积小则可用两个或三个断口拼起来。X射线衍射技术可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、金属合金薄膜与取向、焊接金属相、各种纤维结构与取相、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物原料结构、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。非金属材料的X射线衍射技术可以分析材料合成结构、氧化物固相相转变、电化学材料结构变化、纳米材料掺杂、催化剂材料掺杂、晶体材料结构、金属非金属氧化膜、高分子材料结晶度、各种沉积物、挥发物、化学产物、氧化膜相分析、化学镀电镀层相分析等。
3,射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
4,衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统它们的特点是自动化和智能化。
扫描方式及其用法:
多晶体X射线衍射方法一般都是θ2θ扫描。即样品转过θ角时,测角仪同时转过2θ角。这个转动的过程称为扫描。例如,我们要对样品进行物相鉴定时,需要测量2θ5°80°范围内的衍射谱,这个测量过程就称为“扫描”。扫描的方式一般分为两种:连续扫描和步进扫描。
连续扫描:是指测角仪的连续转动方式,测角仪从起始的2θ到终止的2θ进行匀速扫描。其参数主要有两个,一个是数据点间隔,另一个是扫描速度。扫描速度是指单位时间内测角仪转过的角度,通常取2°mi
,4°mi
或8°mi
或16°mi
等。数据点间隔是指每隔多少度取一个数据点。一般来说,两个参数需要组合。若数据点间隔取002°r