测试，混合信号电路测试，存储器测
试，SOC测试。
第二章数字集成电路测试技术
输入
测试波形1
测试波形

测试矢量0100X
10X10
被测器件（DUT）
输出
输出矢量HLXLH
HHLLX
测试集（1）测试矢量：以并行方式施加于DUT初始输入端的逻辑0和1信号组合。（2）测试波形：测试输入矢量和集成电路对输入测试矢量的无故障输出回应合在一起称为集成电路的测试波形。（3）测试码：能够检测出电路中某个故障的输入激励（测试矢量），也称为故障测试码。（4）测试集：测试码或测试图形的集合。可以是穷举的、小于穷举的、最小数，这取决于测试图形的算法。
对数字集成电路来说，最主要的是测试其功能、时序关系和逻辑关系等。故障检测（测试是否有故障）和故障诊断（不仅测试是否有故障，还要指出故障的位置）统称为测试。对数字集成电路的故障模型可以分为逻辑门层次的故障模型、晶体管层次的故障模型和功能模块层次的故障模型（更适合大规模集成电路的测试）。数字集成电路采用穷举是不现实的。一般测试输出回应有两种办法：比较法（与好的器件作比较，一般是对比较简单的中小规模集成电路），存储法。存储法：在计算机控制下，通过程序生成所需的测试集并存储于测试仪的高数缓冲存储器（图形发生器）。测试时，随测试主频率逐个读出，将测试矢量施加于输出端，已测试集的输出图形为标准，逐拍与被测输出的回应进行比较。（可以在确保一定的前提下，将很长的测试集压缩，或设计一个小的测试集节约测试存储容量，加快测试数度）
f输出矢量集
DUT
输
比
出
较
结
金器件
果
被测器件于金器件比较
输入激励
被测输出
自
DUT
动
测
试
系
期望输出
统
结
比
果
较
输
出
被测器件与预期输出图形比较
1典型的数字集成电路测试顺序
直
交
开始
流
接触是测试
功能测试
（参数
CDCD
流（
结
）
束
参
数
测
测
试
试
1接触测试
在DUT的每一个管脚上都施加一电流，随后测量其相应电压，如果所得电压值超出了
特定的电压范围，则可认为管脚与测试仪的接触是断开的，即开路。
2功能测试
只有逻辑功能正确的电路，才有必要进行随后的测试。
3直流参数测试
在DUT管脚进行电压或电流测试。
4交流参数测试
大多数自动数字测试系统都有可以选择的数字测量分辨率，通过逐次逼近或线性递归的
测量方法即可准确测出传输延迟及上升沿、下降沿时间等。
2数字集成电路测试的特殊要求
（1）数字集成电路静态和动态参数测试的一般r