目
录
实验一实验二实验三实验四实验五实验六
逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试2组合逻辑电路的功能测试9锁存器和触发器的逻辑功能及相互转换15计数、译码、显示电路20寄存器及其应用26随机存取存储器的应用30
实验七DA、AD转换器42实验八智力竞赛抢答装置的设计49
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f实验一
一、实验目的
逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试
1．熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用；2．掌握TTL和CMOS与门主要参数的测试方法；3．了解门电路的电压传输特性的测试方法；4．掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74136异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能；5．掌握三态门的逻辑功能。
二、预习要求
1．了解TTL和CMOS与非门主要参数的定义和意义。2．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。3．熟悉74LS00、74LS02、74136、74LS125和CC4011的外引线排列。4．画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路
1、TTL与非门的主要参数TTL与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。（1）输出高电平VOH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时，VOH必须大于标准高电平（VSH24V），接有拉电流负载时，VOH将下降。测试VOH的电路如图11所示。（2）输出低电平VOL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。空载时，图11VOH的测试电路图12VOL的测试电路
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f图13
IIS的测试电路
图14扇出系数N的测试电路
VOL
必须低于标准电平（VSL04V），接有灌电流负载时，VOL将上升。测试VOL的电路如图12
所示。（3）输入短路电流IIS：输入短路电流IIS是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流。前级输出低电平时，后级门的IIS就是前级的灌电流负载。一般IIS＜16mA。测试IIS的电路见图13。（4）扇出系数Nr