底视野清晰。用牙髓探针dg16mailleferde
tsplyswiss探查近颊根管口与腭根根管口这间的浅沟或暗线必要时用小号球钻或长柄球钻适当加深发育沟后再探查。
根管口确定后使用8或10不锈钢k锉de
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d旋转式探查根管确定根这是否通畅。每次更换锉之前均使用2ml2的次氯酸钠溶液闪电冲洗根管防止根管阻塞。使用电子根管长度定位仪apeslocator初步测定根管长度后将10事15k锉插入根管内拍摄初尖锉片确认工作长度。根管预备完成后10ml2的次氯酸钠溶液和10ml17的edta交替冲洗根管以除根管壁玷污层。根管充填为侧方如压充填技术。
13mb2根管的确认标准2①根管通畅②根管在充填后为独立的根管或在距根尖5mm范围内与近颊根管融合。如果探查时有两个根管口而根管预备过程中或预备完成后融为一个则不能确认为mb2。
2结果在寻找探查mb2根管过程中均未造成髓室底穿孔。本研究50例上颌第二恒磨牙中急性牙髓炎6例慢性牙髓炎20例急性根尖周炎3例慢性根尖周炎15例牙髓坏死2例逆行性牙髓炎4例。其中确认存在mb2的有13例占26左侧8例右侧5例在各年龄组的分布表1。
f3讨论31上颌第二磨牙位于牙弓后方根管治疗时视野差髓室窄小且髓室底多呈窄凹形加之牙本质的增龄性变化根管口的定位较困难尤其是mb2的定位更加困难而且mb2根管口通常会有牙本质悬突覆盖。将开髓洞形从传统的三角形改良为斜方形可以改善髓室底的视野有利于去除近中壁牙本质悬突将mb2根管口暴露。使用牙髓探针仔细探查近中颊根根管口与腭根根管口这间的发育沟或暗线有助于发现细小、隐蔽甚至钙化的mb2防止在治疗过程中被遗漏。本研究结果发现上颌第二磨牙的mb2发生率为26与其它临床研究结果相近或稍低67主要原因为仅采用肉眼探寻未借助特殊工具。实验研究发所发现的mb2发生率较高但与临床操作条件差异较大因此其研究结果仅可作为临床研究的参考。本研究结果说明上颌第二磨牙近中颊根mb2根管确有一定的发生率在临床治疗中应引起足够的重视。32本研究所发现的mb2出现在各年龄段牙本质的增龄性变化可以使根管和根管口变得非常细小。本研究所发现的13例mb2出现在左侧8例右侧5例没有明显差异表明mb2的出现与牙位没有明显关系。本研究发现龋病是导致上颌第二磨牙进行根管治疗的主要原因。若龋坏发生在近中邻面可由于修复性牙本质的沉积导致mb2根管口缩小或完全钙化探查时应更加小心。在临床治疗中需要对每个病例有意识假想在近中颊根根r