WG730、WG700可靠性测试标准
NoHQ
试验名称
123高温运行测试低温运行测试高温存储测试
DOOV
试验名称详细试验方法试验数量（HQ）
444
试验数量判断标准（DOOV）
883各种机械电气性能指标正常各种机械电气性能指标正常手机的射频性能指标满足要求，功能正常，外壳无变形，起泡，发霉，裂纹，变色；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。备注：接收标准是24小时，朵唯测试48小时，48小时若有fail，需分析原因，根据fail现象和分析结果，讨论是否要改善。手机的射频性能指标满足要求，功能正常，外壳无变形，起泡，发霉，裂纹，变色；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。备注：接收标准是24小时，朵唯测试48小时，48小时若有fail，需分析原因，根据fail现象和分析结果，讨论是否要改善。
高温运行测试55℃2h后3次开关机，开机再放置20h，在2h内测试，试验后常温放置2h测试性能并记录低温运行测试20℃2h后3次开关机，开机再放置20h，在2h内测试，试验后常温放置3h测试性能并记录
高温贮存试验测试条件：70±2°C试验方法：不装电池将手机放入温度试验箱内的架子上。按平均值不大于3℃mi
的变化速度逐步升温到70℃，温度稳定后持续24个小时之后取出，并在常温下放置2小时，恢复至常温，然后进行结构，功能检查，检查无异常则继续试验到48小时。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置低温贮存试验测试条件：40±3°C试验方法：不装电池，将手机放入温度试验箱内的架子上。按平均值不大于1℃mi
的变化速度逐步降温到40℃，温度稳定后持续24个小时，取出并在常温下放置2小时，恢复至常温，然后进行外观、结构、功能检查，检查无异常则继续试验到48小时。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置
4
低温存储测试
4
3
5
温度冲击
温度冲击试验测试条件：低温：40℃；高温：70℃（IML工艺为65℃）试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池，先放置于高温箱内持续1小时后，在3分钟内迅速转入低温箱并持续1小时后，再3分钟内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。恒定湿热试验测试条件：55℃，9095RH试验方法：不装电池，手机r