北京工业大学
自动化专业
一、实验目的1、了解典型环节系和统的频率特性曲线的测量方法2、根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数二实验设备1、THBDC1型控制理论计算机控制技术实验平台2、PC机一台（含“THBDC1”软件）、USB数据采集卡、37针通信线1根、16芯数据排线、USB接口线三实验内容
（1）惯性环节的频率特性测试
R1R2100KC1uF闭环传递函数为
R0200K
KU0SUiSTS1
实验记录Bode图
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理论计算数据
（2）二阶系统
OP1，惯性环节，
11；OP2，积分环节，02S1S

1；OP3，反相，（1）；01S
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可以得到：
RX100KGS
55S25S52
2
ω
2236
ζ1118
RX10KGS
5050S2505020
2
ω
7071
ζ03536
实验记录波特图Rx100K
实验记录波特图Rx10K
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仿真结果：
仿真波特图Rx100K
仿真波特图Rx10K
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校正前观察响应曲线为
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校正后串联一个惯性装置
波特图校正前后对比
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思考题：1、根据上位机测得的Bode图的幅频特性，就能确定系统（或环节）的相频特性，试问这在什么系统时才能实现？必须在开环二阶系统中，而且只能确定最小相位系统。
2、实验时所获得的性能指标为何与设计时确定的性能指标有偏差？因为在设计时，很多计算采用的近似计算，同时实验时用的电阻元件参数与设计不完全一致。
3什么是超前校正装置和滞后校正装置，他们各利用矫正装置的什么特性对系统进行校正？答：超前校正装置用于改善系统的动态性能，实现在系统静态性能不受损的前提下，提高系统的动态性能。通过加入超前校正环节，利用其相位超前特性来增大系统的相位裕度，改变系统的开环频率特性。一般使校正环节的最大相位超前角出现在系统新的穿越频率点。而滞后校正装置则通过加入滞后校正环节，使系统的开环增益有较大幅度增加，同时又使校正后的系统动态指标保持原系统的良好状态。它利用滞后校正环节的低通滤波特性，在不影响校正后系统低频特性的情况下，使校正后系统中高频段增益降低，从而使其穿越频率前移，达到增加系统相位裕度的目的。
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