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数字电路组合逻辑电路设计实验报告
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f实验三组合逻辑电路设计
（含门电路功能测试）实验目的掌握常用门电路的逻辑功能掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法掌握组合逻辑电路的功能测试方法实验设备与器材Multisim、74LS00四输入2与非门、示波器、导线实验原理TTL集成逻辑电路种类繁多，使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查，保证实验的顺利进行。测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时，门电路输入端加固定的高（H）、低电平，用示波器、万用表、或发光二极管（LED）测出门电路的输出响应。动态测试时，门电路的输入端加脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。下面以74LS00为例，简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00为四输入2与非门，电路图如31所示。74LS00是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中，共有14条外引线。使用时必须保证在第14脚上加5V电压，第7脚与底线接好。整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。表3174LS00与非门真值表门电路的静态逻辑功能测试静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表，确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时，可将74LS00中的一个与非门的输入端A、B分别作为输入逻辑变量，加高、低电平，观测输出电平是否符合74LS00的真值表（表31）描述功能。
f测试电路如图32所示。试验中A、B输入高、低电平，由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生，输入F可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。
仿真示意门电路的动态逻辑功能测试动态测试用于数字系统运行中逻辑功能的检查，测试时，电路输入串行数字信号，用示波器比较输入与输出信号波形，以此来确定电路的功能。实验时，与非门输入端A加一频率为1kHz的脉冲信号Vi，如图33所示，另一端加上开关信号，观测F输出波形是否符合功能要求。测试图如34所示。动态测试1态动态测试0态
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