器，并连接成T’触发器，利用示波器观察Q与CP的关系
4绘制时序图
5要求画出D和JK触发器改造成T’触发器的连接图。
141312111098Vcc2RD2D2CP2SD2Q2Q
74LS74
1615141312111091K1Q1QGND2K2Q2Q2J
74LS76
1RD1D1CP1SD1Q1QGND1234567
1CP1SD1RD1JVcc2CP2SD2RD12345678
DRdQCP
SdQ
图D触发器的逻辑符号
JRdQCP
KSdQ
图JK触发器的逻辑符号
f实验六集成移位寄存器
一实验目的
掌握集成双向移位寄存器74LS194的逻辑功能。
二实验仪器及芯片
1实验箱2芯片：74LS194双向移位寄存器1片
三实验内容
1并行输入－并行输出寄存器逻辑功能的测试。
D0D3接逻辑电平开关，Q0Q3接发光二极管，CP接按键脉冲。74LS194的状态功能如
表。按照表的要求进行输入，观察输出Q0Q3，并在表中记录结果。
表S1S0
CR
工作状态
161514131211109VccQ0Q1Q2Q3CPS1S0
0××100101110111
置零保持右移左移并行输入
74LS194
CRSRD0D1D2D3SLGND12345678
图74LS194的管脚图
2右移逻辑功能的测试
按照表的要求进行输入，观察输出Q0Q3，并在表中记录结果。
3左移逻辑功能的测试
按照表的要求进行输入，观察输出Q0Q3，并在表中记录结果。
表并行输入－输出功能测试
输
入
输
出
CP
S1
S0
D0
D1
D2
D3
Q0
Q1
Q2
Q3
1
1
1
1
1
1
1
1
0
0
0
0
1
1
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
fCPS10
输
S0
SR
11
表右移功能测试
入
D0
D1
D2
D3
1111
输
Q0
Q1
出
Q2
Q3
0110000
0100011
0101100
CPS10000
输
S0
D0
11
表左移功能测试
入
D1
D2
D3
SL
1111
100001
100110
111000
输
Q0
Q1
出
Q2
Q3
4用74LS194和74LS04实现扭环形计数器，画出逻辑图和状态转换图。
141312
Vcc
1
1110
11
98
1
74LS04
1
1
1
GND
123456
7
f实验七集成计数器
一实验目的
1掌握集成计数器74LS161的逻辑功能。2熟悉74LS161的管脚排列。
二实验仪器及芯片
1实验箱2芯片：74LS161四位二进制计数器一片
三实验内容
1并行预置输入
芯片管脚如图所示。D0D3接逻辑电平开关，Q0Q3接发光二极管，CP接按键脉冲，LD
接地，CR接高电平（＋5V），P和T一起接高电平（＋5V）。按照表的要求进行输入，观察
输出Q0Q3，并在表中记录结果。
表74LS161的功能表
CP
PT工作状态
CRLD
0
×××
置零
1
0××预置数
1
1
11
计数
161514131211109VccCOQ0Q1Q2Q3TLD
74LS161
CRCPD0D1D2D3PGND12345678
图74LS161的管脚图
表计数器预置输入逻辑功能测试
输
入
输
出
CP
D3
D2
D1
D0
Q3
Q2
Q1
Q0
LD
0
1
1
1
1
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
0
1
1
0
0
2计数功能的测试
D0D3接逻辑电平开关，Q0Q3接发光二极管，Cr