入内存卡再取出，累计1000次。支持热插拔的
必须在开机状态下测试，每插拔100次检查一次，
2
不支持热插拔的每插拔100次开机检查一次。要求测试后存储卡结构正常（不能破裂），手机无不
识卡问题，内存卡中的内容不可丢失。插拔频率
不超过30次分钟插入拔出算一次
EN03重要电池
裸机＋待测电池＋电池盖（可机选）
2
标准电池：装卸电池1000次，然后装卸电池盖2000次非标电池：装卸电池2000次。每隔50次检查开机情况
械
将耳机垂直插入耳机孔后，再垂直拔出，如此反
EN04
重要
耳机接口
装卸整机＋适配充电试器
2
复，累计3000次。功能应正常。插拔频率不超过30次分钟插入拔出算一次充电接口也同样接口共用时几个附配件的插拨试验在同一手机
如果出现充电功能丧失；接口的机械性损伤，为不合格
验
上测试。
重要
数据线接口
将数据线垂直插入IO口后，再垂直拔出，如此反
整机＋相应的活动部件
2
复，累计5000次。功能应正常。插拔频率不超过30次分钟插入拔出算一次接口共用时几个附
配件的插拨试验在同一手机上测试。
EN05重要手写笔
手写笔垂直插入手机再拔出为一次，插拔20000
次，实验中检查手机与手写笔的配合有无不顺畅
整机＋相应的活动部件
1
现象。测试完毕手机与手写笔外观、结构应正常测试后手写笔可以适当变松，但不。（试验速率：≤25次分钟）要求测试5000次允许垂直状态下笔头端自然滑出。
后手写笔拔出时拉杆为拉伸状态；20000次后应
保证手写笔可以锁紧不会滑落。
EN06
重要
特殊活动部件
1外部卡扣：5000次，遇到特殊结构再另行规定
功能或活动能力丧失或降低，为不合格
以4060次分钟的速度，不小于06N的力度均
EN07
重要
按键机械寿命试验
整机＋电源供电＋开机
2
匀按键，应能达到15万次以上，每2万次检查功能。功能应正常。
失灵或无弹性、下陷不合格
侧键应能达到5万次以上。
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◆◆
f可靠性测试标准
将手机设置为马达长时间振动状态，试验时间不
EN08
致命
马达寿命试验
整机＋电源供电＋开机＋工程模式
5
少于72H；对于单体马达可采用：2秒开1秒关为振动正常，无杂音为合格；振动减一个周期，循环5万次以上，马达功能应正常。单弱或无振动，或振动有杂音，为不◆体振动周期选取参考手机实际使用定出，选取最合格
接近的振动周期进行测试。
EN09
致命
扬声器寿命试验
整机电源供电响铃状态
5
采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用42V直流电源供电方式，将试验样机设置成长时间播r