录在DF422102《检测仪器清单》表格内。3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要
由以下结构组成，如图（三）所示：
f（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。（4）、校准步骤：
项目校准前
校准中
步骤1、检查高度是否有碰撞，锈蚀，带磁，或其他缺陷。2、检查高度尺的刻度线及数值是否清晰可见。3、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。4、尺框在尺身上移动应平稳，无卡住现象。5、锁紧装置的作用是否有效。1、先检查游标剑测高扑与划线量扑下平面，与底座平面在同一水平面时，游
标零刻度线，与尺身零度刻你是否对齐？不对齐，则先调整。2、选择适当，又不同长度的量块，分别用高度尺，对每个量块量测2次，其
平均值与量块实际值做比对。3、将内校量测值减去外校合格量块测数值，即为误差值。
校准后
1、高度尺遇有外观不良或须调整时，由品管部判定暂停使用，并安排外校。
（5）、判定标准：表示值误差不超过±004mm即为合格。
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF422102《检测仪器清单》表格内。
4、外径千分尺内校程序：
（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，
锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。
（2）、
使用基准：外校
f合格的标准量块：（3）、校准环境及周期。常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。（4）、校准步骤：
项目校准前
校准中
步骤
1、检查外径千分尺是否有碰伤，锈蚀，带磁或其他缺陷，捡查千分尺的刻度线及数
值是否清晰可见。
2、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。
3、微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡住现像。
4、锁紧装置的作用是否有效。
5、测砧与测微螺杆端面是否有严重磨损。
1、选择适当的标准量块，对外径千分尺进行校准。
2、各校件作五点不同尺寸校准，每点校准两次取平均值。
测量范围（mm）
受校点尺寸（mm）
025
51210241536215025
2550
321235244036465050
5075
551260246536715075
75100
8012852490369650100
3、取用标准量块时，需戴手套，并小心不可掉落地上。
4、将测量数值减去标准量块数值，即为误差值。
校准后
1、外径千分尺遇有外观不良或需调整，由品管r