录在DF422102《检测仪器清单》表格内。3、高度尺内校程序:(1)、结构概述:高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具,其主要
由以下结构组成,如图(三)所示:
f(2)、校准基准:选用外校合格的量块和平台进行比对校准。(3)、校准环境及周期:常温,常压,静置2小时以上,校准周期为12个月。(4)、校准步骤:
项目校准前
校准中
步骤1、检查高度是否有碰撞,锈蚀,带磁,或其他缺陷。2、检查高度尺的刻度线及数值是否清晰可见。3、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。4、尺框在尺身上移动应平稳,无卡住现象。5、锁紧装置的作用是否有效。1、先检查游标剑测高扑与划线量扑下平面,与底座平面在同一水平面时,游
标零刻度线,与尺身零度刻你是否对齐?不对齐,则先调整。2、选择适当,又不同长度的量块,分别用高度尺,对每个量块量测2次,其
平均值与量块实际值做比对。3、将内校量测值减去外校合格量块测数值,即为误差值。
校准后
1、高度尺遇有外观不良或须调整时,由品管部判定暂停使用,并安排外校。
(5)、判定标准:表示值误差不超过±004mm即为合格。
(6)、记录保存:
①、校准合格后,贴上校准标签。
②、校准不合格时,依实际情况定为暂停使用,降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF422102《检测仪器清单》表格内。
4、外径千分尺内校程序:
(1)、外径千分尺又叫螺旋测微器,外径千分尺是由尺架,测砧,测微螺杆,微调装置,
锁紧装置,固定套筒,微分筒等组成,如图(三)所示。
(2)、
使用基准:外校
f合格的标准量块:(3)、校准环境及周期。常温,常压,静置2小时以上,校准周期为12个月。(4)、校准步骤:
项目校准前
校准中
步骤
1、检查外径千分尺是否有碰伤,锈蚀,带磁或其他缺陷,捡查千分尺的刻度线及数
值是否清晰可见。
2、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。
3、微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡住现像。
4、锁紧装置的作用是否有效。
5、测砧与测微螺杆端面是否有严重磨损。
1、选择适当的标准量块,对外径千分尺进行校准。
2、各校件作五点不同尺寸校准,每点校准两次取平均值。
测量范围(mm)
受校点尺寸(mm)
025
51210241536215025
2550
321235244036465050
5075
551260246536715075
75100
8012852490369650100
3、取用标准量块时,需戴手套,并小心不可掉落地上。
4、将测量数值减去标准量块数值,即为误差值。
校准后
1、外径千分尺遇有外观不良或需调整,由品管r