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电气学院
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实验一集成门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1验证常用集成门电路的逻辑功能2熟悉各种门电路的逻辑符号3熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件
1数字电路实验箱2万用表374LS00四2输入与非门
74LS11三3输入与门74LS04反相器
1片1片1片
74LS86四2输入异或门1片74LS32四2输入或门1片
三、实验原理
集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V10逻辑高电平“1”时＞24V，低电平“0”时＜04V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验内容㈠根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能
1利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下

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按表11要求用开关改变输入端ABC的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为1，灭时记为0，把测试结果填入表11中。
表1174LS11逻辑功能表
输入状态
输出状态
A
B
C
Y
0
0
0
0
0
0
1
0
0
1
0
0
0
1
1
0
1
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
0
1
1
1
1
悬空
1
1
1
悬空
0
0
0
2利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下

3
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按表12要求用开关改变输入端AB的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表12中。
表1274LS32逻辑功能表
输入状态
输出状态
A
B
Y
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
0
悬空
1
1
悬空
1
悬空
0
1
悬空
1
1
悬空
悬空
1
3利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下

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按表13要求用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表13中。
表1374LS04逻辑功能表
输入
输出状态（01）
0
1
0
0
悬空
0
㈡根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能
174LS00四二输入与非门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。

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利用Multisim画出以74LS00为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下
按表14要求用开关改r