中南大学实验报告
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信息科学与工程学院电子信息1x02班09091x2014
ff实验一：单片机IO口应用实验（P33输入P1输出）
一、实验目的：1、掌握单片机P3口、P1口简单使用。2、学习延时程序的编写和使用。二、实验原理和内容：（1）实验原理：1、P1口是准双向口，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同，由准双向口结构可知：当P1口作为输入口时，必须先对它置高电平，使内部MOS管截止，因内部上拉电阻是20KΩ40KΩ，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入的数据不正确。2、延时子程序的延时计算。对于延时的程序DELAY：MOVR6，00HDELAY1：MOVR7，80HDJNZR7，DJNZR6，DELAY1查指令表可知MOV、DJNZ指令均需用两个机器周期，而一个机器周期时间长度为1260MHZ，所以该段指令执行时间为：（1281×2561×2×12÷60000001321ms。实验原理图如下：
（2）实验内容：1、P33口做输入口，外接一脉冲，每输入一个脉冲，P1口按十六进制加一输出。
f2、P1口做输出口，编写程序，使P1口接的8个发光二极管L0L7按16进制加一的方式点亮发光二极管。三、实验步骤：1、P33用插针连至K1，JU2（P10～P17）用8芯线连至JL（L0～L7）。2、调试、运行程序test1中的MCUIOASM。3、开关K1每拨动一次，L0～L7发光二极管按16进制方式加一点亮。四、实验数据和结果：
由实验的当开关K1每拨动一次，L0～L7发光二极管按16进制方式加一点亮。五、实验总结：P1口是准双向口，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同，由准双向口结构可知：当P1口作为输入口时，必须先对它置高电平，使内部MOS管截止，因内部上拉电阻是20KΩ40KΩ，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入的数据不正确。在做实验时调试、运行程序test1中的MCUIOASM是关键，要学会熟练掌握调试运行程序的过程。
f实验二：简单IO口扩展实验
一、实验目的：学习在单片机系统中扩展简单IO口的基本方法。二、实验原理和内容：（1）实验原理：实验原理图如下：
图241实验程序框图如下：
f（2）实验内容：MCS51外部扩展空间很大，但数据总线口和控制信号的负载能力是有限的，若需要扩展的芯片较多，则MCS51总线口负载过重，74LS244是一个输入扩展口，同时也是一个单向驱动器，以减轻总线负担。74LS273作为同向输出口，控制8个发光二极管的亮灭。三、实验步骤：1、74LS244的输入r