中南大学实验报告
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信息科学与工程学院电子信息1x02班09091x2014
ff实验一:单片机IO口应用实验(P33输入P1输出)
一、实验目的:1、掌握单片机P3口、P1口简单使用。2、学习延时程序的编写和使用。二、实验原理和内容:(1)实验原理:1、P1口是准双向口,它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同,由准双向口结构可知:当P1口作为输入口时,必须先对它置高电平,使内部MOS管截止,因内部上拉电阻是20KΩ40KΩ,故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高,且原来是低电平,则MOS管导通,读入的数据不正确。2、延时子程序的延时计算。对于延时的程序DELAY:MOVR6,00HDELAY1:MOVR7,80HDJNZR7,DJNZR6,DELAY1查指令表可知MOV、DJNZ指令均需用两个机器周期,而一个机器周期时间长度为1260MHZ,所以该段指令执行时间为:(1281×2561×2×12÷60000001321ms。实验原理图如下:
(2)实验内容:1、P33口做输入口,外接一脉冲,每输入一个脉冲,P1口按十六进制加一输出。
f2、P1口做输出口,编写程序,使P1口接的8个发光二极管L0L7按16进制加一的方式点亮发光二极管。三、实验步骤:1、P33用插针连至K1,JU2(P10~P17)用8芯线连至JL(L0~L7)。2、调试、运行程序test1中的MCUIOASM。3、开关K1每拨动一次,L0~L7发光二极管按16进制方式加一点亮。四、实验数据和结果:
由实验的当开关K1每拨动一次,L0~L7发光二极管按16进制方式加一点亮。五、实验总结:P1口是准双向口,它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同,由准双向口结构可知:当P1口作为输入口时,必须先对它置高电平,使内部MOS管截止,因内部上拉电阻是20KΩ40KΩ,故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高,且原来是低电平,则MOS管导通,读入的数据不正确。在做实验时调试、运行程序test1中的MCUIOASM是关键,要学会熟练掌握调试运行程序的过程。
f实验二:简单IO口扩展实验
一、实验目的:学习在单片机系统中扩展简单IO口的基本方法。二、实验原理和内容:(1)实验原理:实验原理图如下:
图241实验程序框图如下:
f(2)实验内容:MCS51外部扩展空间很大,但数据总线口和控制信号的负载能力是有限的,若需要扩展的芯片较多,则MCS51总线口负载过重,74LS244是一个输入扩展口,同时也是一个单向驱动器,以减轻总线负担。74LS273作为同向输出口,控制8个发光二极管的亮灭。三、实验步骤:1、74LS244的输入r