件。513研究时机：新零件、新设备模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停产等。514采集样本的时机在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。515计算公式X∑Xi
S∑（XiX）2
1CmUSLLSL6SCmkmi
USLX3S，（XLSL）3SS过程变差的平方根
采集的样本数Xi样本的测量值X样本的平均值USL公差的上限LSL公差的下限516设备能力的评价
Cmk≥167设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；Cmk＜167，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100检验，并对设备进行检修，
检修后重新进行Cmk研究。517保存设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。
表单编号：0004000401
f统计制程控制程序
52过程性能及过程能力研究521制定“Ppk、Cpk计划”522绘制分析用控制图（XR图为例）5221收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。5222计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。
X∑Xi
RXmaxXmi
：子组中样品数量Xi：子组中每一样品测量值Xmax：子组中最大样品测量值Xmi
：子组中最小样品测量值523选定控制图的刻度524按平均值和极差值在控制图上描出对应点。525计算极差均值和过程均值X，并按均值在控制图上画出中心线。
k
R∑i1
Ri式K中：k：子组数
k
X∑Xii1
K
Ri：每一个子组的极差
Xi：每一个子组的均值526计算控制限
UCLrD4RLCLrD3RUCLxXA2RLCLxXA2R
式中A2，D3，D4根据子组容量表查得出
527按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。
528分析控制图是否随即分布：
a点：出现超出控制线的点；
b链：产生连续七点上升下降在平均值的一侧的点；
c明显的非随机图形：显著多于（或少于）23的点落在离均值很近之处。
若有上述非随机分布现象，则：
表单编号：0004000401
f统计制程控制程序
①去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；
②如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制图
并重新进行分析。
529计算初始过程能力指数：（试生产阶段进行或过程改变）
Pp（USLLSL）6σs式中：USL：规范的公差上限
LSL：规范的公差下限
σs：总体样本标准差在过程有偏移的情况下
Ppkmi
USLX3σssXLSL3σss
σs


∑（XiX）2
1
I1
5210评价初始过程能力指数
Ppk≥167：满足要求，可以进入批量生产阶段。
Ppk＜167：初始能力需改进
①减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标r