数据
099102105098109109101099103093097103102098101098098工艺要求值1±03
上偏差Tu上偏差TL平均值（X）用STDEV公式来计算标准偏差σ6σ3σ公差范围TTuTL中心偏移量ε┃Xu┃偏移系数K2εT规格中心值u＝（规格上限规格下限）2；当ε≠0时，双侧规范公差CPK的计算公式为CPKT2ε1KCp6σ
1307100882352900416656860249994118012499705906000882352900294117651
2329466576
2329467
131251211511105
f1110510950908508075071234567891011121314151617
Cp值Cp≥167
级别特级
判断能力过高
双侧公差范TT＞1061234
处置可将公差缩小到约土46的范围2允许较大的外来波动以提高效率改用精度差些的设备，以降低成本简略检验
167≥Cp133
一级
能力充分
T＝86106
1若加工件不是关键零件，允许一定程度的外来波动2简化检验3用控制图进行控制1用控制图控制，防止外来波动2对产品抽样检验，注意抽样方式和间隔3Cp1．0时，应检查设备等方面的情示器1分析极差R过大的原因并采取措施22若不影响产品最终质量和装配工作可考虑放大公差范围33对产品全数检查，或进行分级筛选
133≥Cp10
二级
能力尚可
T＝6686
10≥Cp067
三级
能力不足
T＝4666
f标准偏差（σ）：即0607倍峰高时色谱宽度的一半。
f置
土46的范围来波动以提高效率备，以降低成本
零件，允许一定程度
止外来波动注意抽样方式和间隔查设备等方面的情示器
的原因并采取措施最终质量和装配工作可
查，或进行分级筛选
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