管。由于分立元件特性随环境变化而不同，使用时间一长，元件的老化会改变其自身参数，因而使得测量结果精度不高。阴极射线管显示信息量少，结果不够直观，测量过程中需要花费大量的时间去读取显示数据，并根据显示数据进行一系列的整理计算，方可得出系统的频率特性，使用起来效率不够高。
随着集成电路的发展，出现了直接数字频率合成技术，并有很多优秀的直接数字频率合成芯片问世，主要代表为ADI公司的AD98XX系列和AD99XX系列。该系列芯片输出信号频率范围广、幅度稳定、抗干扰能力强。通过采用直接数字频率合成技术来产生扫频信号，可以弥补传统的LC谐振网络产生的信号频率精度不够高，幅度不稳定的缺点。且系统控制部分可采用单片机或DSP对传输网
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f络的频率特性进行测量，电路简单，由于采用了数字电路，使得系统的抗干扰能力大大提高。但这种测量原理实质上还是在对信号的幅值和相位进行采样，通过采样来实现传输网络的频率特性。因此，受限于采样速度和模拟带宽的限制，采用此方案的低成本系统，测量范围不够宽，大多在1MHz以下，而测量范围宽的价格则极其昂贵，一般在2万元以上。
13国内外概况
目前，国际上高性能网络分析仪主要以Agile
t公司的系列产品为代表，如安捷伦公司的N52XXA高性能测试系列，以及N50XXA低成本系列。由于扫频仪工作频率范围与网络分析仪相比较低，技术要求也比网络分析仪低很多，因此目前国内外设计生产频率特性测试仪的公司有很多，产品大多相似，功能相近，且都局限台式机的形式，手持式频率特性测试仪并不常见。因此，在手持机方面，国内外都还有广阔的市场空间。
14课题研究内容与组织结构安排
频率特性测试中，幅频特性可采用峰值检波法和采样法实现，也可采用零中频解调原理实现。相频特性测试可将信号整形为方波后测边沿的时差来实现，即过零法，也可采用零中频解调原理实现。峰值检波法测量精度不够高，对频率较高的信号难以正确测量1。过零法2电路的测量精度主要取决于测量时差的处理器运行速度。当处理器运行速度较低时，则难以准确的测得两个信号的过零点时间差，从而无法得到精确的结果。即过零法对处理器的要求较高，而且，过零法由于其自身电路特点，很容易受到噪声的影响。为了满足高噪声抑制能力，寻求一种能在较为恶劣的环境中稳定工作，且精度和测量范围相对较高的频率特性测试仪，本设计从零中频解调原理3入手，提出了一种测量范围在1M到40MHz，可进行点频和扫频测量的频率特性r