《电子技术基础》实验指导书
电子技术课组编
信息与通信工程学院
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f实验三
基本门电路逻辑功能的测试
一实验类型验证性设计二实验目的1熟悉主要门电路的逻辑功能；2掌握基本门电路逻辑功能的测试方法；3会用小规模集成电路设计组合逻辑电路。三实验原理1集成电路芯片介绍数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图11。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门，逻辑图及外引线排列图见图11。
图11逻辑图及外引线排列
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f2逻辑表达式非门2输入端与非门4输入端与非门或非门11121314
对于与非门其输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看做；逻辑1，但为防止干扰信号引入，一般不悬空，可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。对MOS电路输入端不允许悬空。对于或非门，闲置输入端应接地或低电平。四实验内容及步骤1逻辑功能测试①与非门逻辑功能的测试：将74LS20插入实验台14P插座，注意集成块上的标记，不要插错。将集成块Vcc端与电源5V相连，GND与电源“地”相连。选择其中一个与非门，将其4个输入端A、B、C、D分别与四个逻辑开关相连，输出端Y与逻辑笔或逻辑电平显示器相连，如图12。根据表11中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。表11A10000B11000C11100D11110Y
接逻辑电平接逻辑笔
②或非门逻辑功能的测试：
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f将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个或非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑笔相连，如图13。根据表12中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。表12
A0011B0101
接逻辑电平接逻辑笔
Y
图13
③用上述同样的方法测试74LS00、74JS04的逻辑功能。2传输性能和控制功能的测试表13
逻辑电平A示波器1BY
0
参照图14，从74LS00芯片中选取一个2输入与非门，A输入端r