X射线衍射原理及应用介绍
特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短约为20～006┱的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离108cm相近，1912年德国物理学家劳厄Mvo
Laue提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布喇格父子WHBraggWLBragg在劳厄发现的基础上不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布喇格定律：2dsi
θ
λ式中λ为X射线的波长，
为任何正整数。当X射线以掠角θ入射角的余角入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时图1在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布喇格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当X射线波长λ已知时选用固定波长的特征X射线，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布喇格条件的反射面得到反射测出θ后，利用布喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型根据衍射线的强度还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜谢乐DebyeScherrer法图2a的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中（图2b）所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布喇格条件故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后便可计算X射线的波长，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术可用于分析金属和合金的成分。X射线衍射在金属学中的应用X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（AWestgre
）1922年证明α、β和δ铁都是体心立方结构，βFe并不是一种新相而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了βFe硬化理论。随后在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超r