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:CCI2A或CCI2B输入,比较:OUT2的输出通用数字IO引脚Timer_B,捕捉:CCI3A或CCI3B输入,比较:Out3输出通用数字IO引脚Timer_B,捕捉:CCI4A或CCI4B输入,比较:Out4输出通用数字IO引脚Timer_B,捕捉:CCI5A或CCI5B输入,比较:Out5输出通用数字IO引脚Timer_B,捕捉:CCI6A或CCI6B输入,比较:Out6输出通用数字IO引脚Timer_B,时钟输入信号TBCLK通用数字IO引脚从发送使能USART1SPI模式通用数字IO引脚从入主出USART1SPI模式通用数字USART1SPI方式的从输出主输入通用数字IO外部时钟输入USART1UART或SPI方式,时钟输出USART1SPI方式通用数字IO引脚主系统时钟MCLK输出通用数字IO引脚次主系统时钟SMCLK输出通用数字IO引脚辅助时钟ACLK输出通用数字IO引脚切换所有PWM数字输出端口到高阻抗Timer_B7TB0到TB6通用数字IO引脚模拟输入a0的12位
ADC
fP61A1P62A2P63A3P64A4P65A5P66A6P67A7RSTNMITCKTDITCLKTDOTDITMSVeREFVREFVREFVeREFXINXOUTTCLKXT2INXT2OUT
60IO
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IO
2
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通用数字IO引脚模拟输入格a112位ADC通用数字IO引脚模拟输入a2的12位ADC通用数字IO引脚模拟输入a3的12位ADC通用数字IO引脚模拟输入a4的12位ADC通用数字IO引脚模拟输入a5的12位ADC通用数字IO引脚模拟输入a6的12位ADC通用数字IO引脚模拟输入a712位ADC复位输入,不可屏蔽中断输入端口,或者引导装载程序启动(在Flash设备)。测试时钟TCK是用于器件编程测试和引导装载程序启动(Flash器件)时钟输入端口测试数据输入或测试时钟输入。该设备保护用保险丝连接到的TDITCLK的。测试数据输出端口。TDOTDI的数据输出或编程数据输入端子选择测试模式。TMS用作一个器件的编程和测试输入端口。ADC外部参考电压输入ADC输内参考电压正端输出内部ADC参考电压和外部施加的ADC参考电压负端晶体振荡器XT1的输入端口。可以连接标准晶体或手表晶体晶体振荡器XT1的输出端或测试时钟输入晶体振荡器XT2的输入端口。只能连接标准晶体晶体振荡器XT2O输出端子
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