m）R倒边（020mm≤宽度≤100mm，曲率半径≤50mm）倒角（浮法方向20mmX50mm；其余15mmx15mm）SIO2阻挡层厚度（350埃±50埃，550
m透过率≥90）ITO层光学、电学、蚀刻性能（蚀刻液：600C37HCLH2O67HNO350503）：化学稳定性：耐碱为浸入600C、浓度为10氢氧化钠溶液中5分钟后，ITO层方块电阻变化值不超过10。耐酸为浸入250C、浓度为6盐酸溶液中5分钟后，ITO层方块电阻变化值不超过10。耐溶剂为在250C、丙酮、无水乙醇或100份去离子水加3分EC101配制成的清洗液中5分钟后，ITO层方块电阻变化值不超过10。附着力：在胶带贴附在膜层表面并迅速撕下，膜层无损伤；或连撕三次后，ITO层方块电阻变化值不超过10。热稳定性：在3000C的空气中，加热30分钟后，ITO导电膜方块电阻值应不大于原方块电阻的300。外观质量：裂纹：不允许。粘附物：包括尘粒、玻璃碎等凸起物，TN型ITO导电玻璃镀膜面不允许有不可去除的高度超过01mm的粘附物；STN型ITO导电玻璃镀膜面不允许有不可去除的高度超过005mm的粘附物。沾污：不可有不溶于水或一般清洗剂无法除去的沾污。崩边：长X宽≤20mmx10mm；深度不超过玻璃基片厚度的50；总长度≤总边长的5。划痕：见表12。表12玻璃体点状缺陷：包括气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。点状缺陷的直径定义为：d缺陷长缺陷宽2。见表13。表13
f玻璃体线状缺陷宽度W：包括玻筋、光学变形见表14。表14
膜层点状缺陷：SIO2阻挡层和ITO导电层的点状缺陷包括针孔、空洞、颗粒等，点状缺陷的直径定义为：d缺陷长缺陷宽2。见表15。表15
ITO导电玻璃的工厂自适应测试方法及判定标准：尺寸：A、测试方法：用直尺和游标卡尺测量待测玻璃原片的长度、宽度、厚度。B、判定标准：测量结果在供货商所提供的参数范围之内为合格。面电阻A、测试方法：把待测试玻璃整个区域做为测试区域，然后测试区域分成九等份后再用四探针测试仪分别测试各区域的面电阻。B、判定标准：根据测试结果计算出电阻平均值及电阻资料分散值，结果在要求范围内既是合格。ITO层温度性能A、测试方法：把待测玻璃原片在3000C的空气中，加热30分钟，测试其加温前后的同一点面电阻阻值。B、判定标准：ITO导电膜方块电阻值应不大于原方块电阻的300为合格。蚀刻性能：A、测试方法：把待测玻璃原片放入生产线所用的蚀刻液中测试其蚀刻完全的时间。B、判定标准：蚀刻完全的时间值小于生产工艺所设定时间的一半值为合格。或按表11蚀刻性能指标检测。ITO层r