实验一TTL集成逻辑门参数测试
学号：2010302547姓名：李俊日期：2012418组号：14
一、实验目的：（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。
二、实验设备：数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，
电阻。
三、实验原理：门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL
逻辑门电路。TTL集成电路的使用规则：（1）插集成块时，要认清定位标记，不得插反。（2）使用电源电压范围为45V55V。实验中要求使用Vcc5V。电源极性不允许接错。（3）空闲输入端处理方法。悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据输入端允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。（4）输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。（5）输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。（6）输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。
四、实验内容：1、TTL信号的产生2、与非门的测试3、用74LS00实现逻辑函数：
FABFABFA○B
五、实验结果：
FABAB
FABA1
FA○BAAB
fCH1A：TTLFAB
CH2B：0V
CH2B：5V
FAB
FA○B
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