P管制图表一
管制图编号：0021
产品名称：工序：品质特性：
序号检查数φP
φPVCLLCLP110032320446169308
耦合器合盖电性能指标
210021210446169308310040400446169308410032320446169308510023230446169308
部门：仪表：检测人：
610021210446169308710033330446169308
生产部网络分析仪罗金辉
81003131044616930891003333044616930810100343404461693081110032320446169308
上管制线：
中心线：
下管制线：
12100242404461693081310035350446169308
VCLP3√P1P
CL∑P
∑
LCLP3√P1P
1410028280446169308151004040044616930816100323204461693081710029290446169308181003333044616930819100323204461693082010034340446169308211002323044616930822
限制日期：200311130抽样方法：取样时间22天，每天随机抽样1组，每组100件。测定人WK
2200677308
100∑
35∑P
350P446169308不良种类不良数
占不良比
柏拉图分析
耦合隔离驻波短路2大1不够3高4402
59
耦合其他7合计小56
090
184
27
53
780
31
450
1
010
677
100009890975893006008600
1000090008000
管制图
500
70005930400
402
60005000
30040003000
1842000
200

CL
P
UCL
LCL
100
统计管制图显稳态，制程正常。分析
持续改进：在402台耦合度偏大的耦合器中，据本月不良记录
0
1000533161000
1
2
3
4
5
6
不良数量
有321台为5dB耦合器，需通知技术部对其进行原因分析，提出改善对策，减少下月此类不良数。
累计百分比
7
f7
f不良类别驻波高短路隔离不够耦合大耦合小其它
序号
不良数
占不良比累计比593027007834580900105930860093009758989010000
123456
402184533161677
7
f7
fr