测试仪
f532试验步骤5321试件准备试件为10个150mm25mm的矩形试件，在试样宽度方向上均匀的裁取，长边在卷材的纵向，距卷材边缘不少于150mm，标记卷材的上表面和下表面。5322测定a、在开始所有试验前，两个圆筒间的距离应按试件厚度调节，即弯曲轴直径2mm两倍试件的厚度。弯曲轴直径应根据产品厚度的不同可以为20mm、30mm、50mm。b、冷冻液达到产品标准的规定温度后，误差不超过05℃。试件放入冷冻液中并保持该温度1h±5mi
。半导体温度计的位置靠近试件。两组各5个试件，一组上表面试验，另一组下表面试验。c、试件放置在圆筒和弯曲轴之间，试验面朝上，然后设置弯曲轴以（360±40）mmmi
的速度顶着试件向上移动，试件同时绕轴弯曲。轴移动的终点在圆筒的上面（30±1）mm处。在完成弯曲过程10s内，在适宜的光源下用肉眼检查试件有无裂纹，必要时，用辅助光学装置帮助。假若有一条或更多的裂纹从涂盖层深入到胎体层，或完全贯穿无增强卷材，即存在裂缝。一组五个试件应分别试验检查。5333判定一个试验面5个试件在规定温度至少4个无裂缝为通过，上表面和下表面的试验结果要分别记录。54低温弯折性541仪器设备
fa、弯折仪：由金属制成的上下平板间距离可任意调节。b、低温冷冻箱：可调节至温度40℃，精度±2℃。c、6倍玻璃放大镜542试验步骤5421试件准备试件为2块100mm50mm的矩形试件，试验前试件应在（23±2）℃相对湿度（50±5）的条件下放置至少20h。5422测定a、将试件的迎水面朝外，弯曲180°，使50mm宽的边缘重合、齐平，并固定。将弯折仪上下平板距离调节为卷材厚度的3倍。b、将弯折仪翻开，把两块试件平放在下平板上，重合的一边朝向转轴，且距离转轴20mm。在设定温度下将弯折仪与试件一起放入低温箱中，到达规定温度后，在此温度下放置1h。然后在标准规定温度下将上平板1s内压下，到达所调间距位置，在此位置保持1s后将试件取出。待恢复到室温后观察弯折处是否断裂，或用6倍放大镜观察试件弯折处有无裂纹。55耐热性551仪器设备a、鼓风烘箱：精度±2℃。b、悬挂装置：至少100mm宽，能夹住试件的整个宽度在一条线，并被悬挂在试验区域。c、光学测量装置：如读数放大镜，刻度至少01mm。d、画线装置
f552方法A5521试件制备a、3个125mm100mm的矩形试件，试件均匀的在试样宽度方向裁取，长边是卷材的纵向。试件应距卷材边缘150mm以上，试件从卷材的一边开始连续编号，卷材上表面和下表面应标记。b、去除任何非持久保护r