技术文件
南通同方半导体有限公司
恒温恒湿试验箱作业指导书
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文件编号NTTFES10501
A0发布
14修改
制修日期
制修章节
20111019全章节
制修版本
A0新文件编制
制修内容
拟制
沈磊磊
会签单位□总经办□财务中心□人力资源中心□行政中心□体系管理中心□供应链管理中心□信息管理中心□经营管理中心
审核签名
批准
会签单位□外延制造中心□材料制造中心□品质管理中心□芯片制造中心□厂务中心□技术中心□销售中心
签名
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此文件内含机密信息，它局限于有权限知道的职员，第三方以及签了防泄露机密协议的其他方翻阅。10目的用于定义在LED芯片高低温存储试验。20范围描述在LED芯片进行高低温存储试验过程所使用的材料设备和程序。30职责品质部工程师对工作过程的各个方面做详细解释保留。品质部作业员执行工作过程的各个方面。品质部工程师进行设备的准备和维修服务。40定义无50工作进行步骤51开启系统511接通机台电源，首先打开“电源开关”开关，然后开启“灯开关”
总电源开关
电源开关
52程序设定521操作模式设定，操作界面如下：
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操作设定522点击操作设定，出现下图画面，设置模式如下：
523设定试验时间，出现下图画面：
524进入主目录，设定温度与湿度：
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温度设定湿度设定525点击屏幕右下角运行停止软件启动程序运行或关闭程序运行。
运行停止
53关机程序
531执行开关置于“O”位置→总电源开关置于“OFF”位置→完成。
54运行中需注意问题
541试验箱工作时，禁止开关试验舱门。
60相关依据
NA
70使用窗体
NA
审核：
制表：
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