有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；元件变形，或受损露出本体等不可接受；Pi
生锈氧化、上锡不良，或断Pi
，均不可接受。
a晶体不能起振不可接受；b测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
目检
测试工位和数字频率计
每LOT取510PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检测方法
晶体
检
规范文件
测方法
第10页共25页
f标题来料检验规范
版本V10
编号3QC01
制订部门品质部
制定日期20120604页次第11页共25
419MHz40MHz80MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体再接通电源开机在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
3768KHz在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内
三极管检验规范
1目的2适用范围3抽样计划
4允收水准（AQL）
5参考文件检验项目
作为IQC人员检验三极管类物料之依据。适用于本公司所有三极管之检验。依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI15无
缺陷属性缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
数量检验
MA
外观检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的PN及实物是否都正确任何有误均不可接受。包装必须采用防静电包装，否则不可接受。实际包装数量与Label上的数量是否相同若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合若不吻合不可接受。Marki
g错或模糊不清难以辨认不可接受；来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过05mm2且未露出基质可接受；否则不可接受；Pi
氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。
目检
目检点数
目检10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
规范文件
第11页共25页
f标题来料检验规范
版本V10
编号3QC01
制订部门品质部
制定日期20120604页次第12页共25
a放大倍数hFE：在常温条件下，设定好各参数后进
行测试，其放大倍数要符合产品规格书的要求。
b截止电流Icbo：在常温条件下，设定好各参数后进
行测试，其截止电流要符合产品规格书的要求。
c饱和电压Vces：在常温条件下，设定好各参数后进
行测试，其饱和电压要符合产品规格书的要求。
电性检验MA
d集电极发射极的击穿电压Vceb：在常温条件下，晶体管测试设定好各参数r